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    性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

1、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-89（IEC68-2-1）

2、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89（IEC68-2-2）

3、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3）

4、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB/T423.4-93（IEC68-2-30）

5、GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗(yàn)方法

6、GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法

7、GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》

8、GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》

9、GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》

10、GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411濕熱試驗(yàn)

11、GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗(yàn)

12、GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

13、GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》

14、GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法

15、GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》



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