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正臺動態(tài)
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三箱冷熱沖擊測試箱報價 氣候環(huán)境試驗

三箱冷熱沖擊測試箱報價 氣候環(huán)境試驗
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產品型號:
ZT-30A-S
更新時間:
2024-05-28
產品報價:
產品特點:
三箱冷熱沖擊測試箱報價1. GB10589-89 低溫試驗箱技術條件2. GB11158-89 高溫試驗箱技術條件3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件4. GB2423.1 低溫試驗、試驗A5. GB2423.2 高溫試驗、試驗B6. GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N7. IEC68-2-14 試驗N
  ZT-30A-S三箱冷熱沖擊測試箱報價 氣候環(huán)境試驗的詳細資料:
品牌正臺ZTCK適用領域科研
產地國產加工定制

三箱冷熱沖擊測試箱報價

同溫段沖擊:由多級蒸發(fā)器結構相應切斷,控制蒸發(fā)面積與制冷量膨脹閥匹配,使用制冷系統(tǒng)輸出合理減少加熱器中和的輸出量,達到恒定節(jié)能;另有獨立的換氣閥門,在排氣(常溫恢復)時動作引入環(huán)境空氣進氣口。在環(huán)境溫度曝露時吸進外面的空氣排氣口,從機械室和試驗區(qū)排出熱氣定時預定功能預先設定試驗開始時間,試驗箱自動開始起動并準備。開始試驗曝露時間縮短功能試驗區(qū)的下風溫度達到曝露溫度后,轉換到下一個曝露的功能前處理/后處理功能。在循環(huán)試驗開始前或結束后,試樣被曝露在高溫環(huán)境中(熱處理)維持一定時間干燥運轉功能試驗結束后,低溫箱可以在干燥條件下運轉一定的時間。

 

 

三箱冷熱沖擊測試箱報價 用途:

    適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關產品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗(沖擊),適應于儀器、儀表、電工、電子產品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.


三箱冷熱沖擊測試箱報價滿足標準:
1. GB10589-89 低溫試驗箱技術條件
2. GB11158-89 高溫試驗箱技術條件
3. GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
4. GB2423.1 低溫試驗、試驗A
5. GB2423.2 高溫試驗、試驗B
6. GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7. IEC68-2-14 試驗N

8. 國軍標GJB150.3-86
9. 國軍標GJB150.4-86

10.GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法  

11.GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法

 

三箱冷熱沖擊測試箱報價控制方式與特色

   利用低溫及高溫蓄冷熱儲存槽,依動作需要打開DAPER,達到快速沖擊效果;平衡調溫控制系統(tǒng)(BTC),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定使用。

 

 

 

 

 

冷熱沖擊測試箱技術參數(shù):

1、 溫度范圍:-20℃/-40℃/-55℃/-65℃~+150℃

2、 溫度上限:+170℃

3、 溫度下限:-70℃

4、 溫度偏差:±2℃

5、 溫度波動度:±0.5℃

6、 溫度恢復時間:5min

7、 溫度恢復條件:高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min.

8、 試品轉移方式:采用氣動

9、試品重量:≤5kg

10、高溫室升溫時間:30min (+25℃~+170℃)

11、低溫室降溫時間:65min (+25℃~-55℃)

12、噪音:(dB)≤65

13、電源:AC380V±10%/50/60Hz+保護接地

14、總功率:13KW

 

三箱冷熱沖擊測試箱報價型號及內箱尺寸(W寬XH高X深D)

ZT-30A-S    W寬300XH高350XD深300mm
ZT-50A-S    W寬350XH高400XD深350mm
ZT-80A-S    W寬400XH高500XD深400mm

ZT-150A-S   W寬500XH高600XD深500mm

ZT-252A-S    W寬600XH高700XD深600mm

 

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