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正臺動(dòng)態(tài)
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液體冷熱沖擊試驗(yàn)箱

液體冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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產(chǎn)品型號:
ZT-CTH-56C
更新時(shí)間:
2024-05-23
產(chǎn)品報(bào)價(jià):
產(chǎn)品特點(diǎn):
液體冷熱沖擊試驗(yàn)箱-適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)(沖擊).
  ZT-CTH-56C液體冷熱沖擊試驗(yàn)箱的詳細(xì)資料:
品牌正臺ZTCK適用領(lǐng)域科研
溫度范圍-40~+150℃溫度波動(dòng)度±0.5℃
溫度均勻度≤±1.0%額定電壓380V
重量580kg外形尺寸1250×1370×2050mm
產(chǎn)地國產(chǎn)加工定制

液體冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):

GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)

GJB150.4-86 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

GJB150.3-86 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

IEC68-2-14 試驗(yàn)N:溫度變化

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB 2423-22環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化

MIL-STD-202F美軍標(biāo)準(zhǔn),電子及電氣試驗(yàn)方法

MIL-STD-883E美軍標(biāo)準(zhǔn),集成電路失效分析方法


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液體冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要參數(shù)

溫度暴露范圍:+60℃ ~ +150℃/-65℃ ~ 0℃

測試時(shí)間 ≥10min

溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:≥30S

測試方式:試樣放入不同溫度的液體介質(zhì)中

型號

ZT-CTH-27C

ZT-CTH-56C

模式

浸漬在液體介質(zhì)浴中,通過樣品籃的移動(dòng)到達(dá)低溫或高溫槽內(nèi)

試驗(yàn)樣品尺寸(mm)

130×160×130  【W(wǎng)*H*D】

160×160×220  【W(wǎng)*H*D】

預(yù)冷溫度范圍

-70℃~0℃

預(yù)熱溫度范圍

+60℃~+200℃

溫度沖擊范圍

-40℃~+150℃/-65℃~+150℃

使用電源

AC 3¢5W 380V  60/50Hz


安全保護(hù)措施:

1、安全可靠的接地保護(hù)裝置

2、電源欠壓、缺相保護(hù)

3、獨(dú)立的工作室超溫保護(hù)

4、制冷機(jī)超壓、過載、油壓欠壓保護(hù);

5、加熱器短路、過載保護(hù)

6、漏電保護(hù)、報(bào)警聲訊提  







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