手機(jī)微跌測(cè)試臺(tái),手機(jī)微跌測(cè)試適用于行動(dòng)(手機(jī))、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講CD/MD/MP3等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之自由落下試驗(yàn)。符合標(biāo)準(zhǔn):JIS C 0044 IEC 60068-2-32。
手機(jī)微跌測(cè)試臺(tái),手機(jī)微跌測(cè)試的詳細(xì)資料:
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手機(jī)微跌測(cè)試臺(tái),手機(jī)微跌測(cè)試用途及說明:
適用于行動(dòng)(手機(jī))、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講、CD/MD/MP3等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之自由落下試驗(yàn)。符合標(biāo)準(zhǔn):JIS C 0044 IEC 60068-2-32。